詳細(xì)摘要: 白光干涉測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以...
產(chǎn)品型號:所在地:廣州市更新時(shí)間:2024-02-06 在線留言
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